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T&Mコーポレーション株式会社
〒104-6136
東京都中央区晴海1-8-11 晴海トリトンスクエア Y棟36階
TELL:03-6284-4428
MAIL:zhangmin@tmtechnology.co.jp

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OWON XDS4000シリーズ デジタル・オシロスコープ
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XDS4000シリーズ デジタル・オシロスコープ

 

+ 7種の測定機能を1台に統合: オシロスコープ、波形発生器、マルチメーター(オプション)、FFTスペクトラム解析、周波数カウンタ、プロトコル解析(オプション)、周波数応答解析
+ 周波数帯域: 350MHz, 500MHz

+ サンプルレート: 最高 5Gサンプル/秒

+ レコード長: 400M

+ 波形更新レート: 最高 600,000波形/秒、低い頻度の異常信号でも観測しやすい

+ 波形発生器(最高50MHz, 1チャンネル)を標準搭載

+ 波形複製機能: オシロスコープで取り込んだ波形を、波形発生器から出力することが可能

+ 多様なトリガ

+ 周波数応答解析機能を標準搭載

+ オプション機能: マルチメータ(データ・ロガー機能含む), プロトコル解析

+ インターフェース: USBホスト, USBデバイス, LAN, VGA

+ SCPIコマンドをサポート

+ 10.4インチ タッチ・スクリーン

モデル XDS4352 XDS4502 XDS4354 XDS4504
周波数帯域 350MHz 500MHz 350MHz 500MHz
サンプルレート 最高 5Gサンプル/秒
水平軸スケール 500ps/div - 1000s/div, step by 1 - 2 - 5
チャンネル数 2 4
ディスプレイ 10.4インチ タッチ・スクリーンLCD
レコード長 400M
波形更新レート 最高 600,000波形/秒
垂直軸スケール 1MΩ入力 :1mV/div~ 10V/div,  50Ω入力 : 1mV/div ~ 1V/div
垂直軸分解能 8bits
入力インピーダンス 1MΩ±2% // 15pF±5pF,  50Ω ± 2%
入力カップリング DC, AC, GND
トリガ・タイプ Edge, Video, Pulse, Slope, Runt, Windows, Timeout, Nth Edge, Logic, I2C, SPI, RS232, CAN
デコード・タイプ(オプション) RS232, I2C, SPI, CAN
自動測定 Period, Frequency, Mean, PK-PK, RMS, Max, Min, Top, Base, Amplitude, Overshoot, Preshoot, Rise Time, Fall Time, +Pulse Width, -Pulse Width, +Duty Cycle, -Duty Cycle, Delay A→B, Delay A→B, Cycle RMS, Cursor RMS, Screen Duty, FRR、FRF、FFR、FFF、LRR、LRF、LFR、LFF、Phase A→B, Phase A→B, +Pulse Count, -Pulse Count, Rise Edge Count, Fall Edge Count, Area, Cycle Area.
波形演算 +, −, *, / ,FFT, FFTrms, Intg, Diff, Sqrt, User Defined Function,
digital filter (low pass, high pass, band pass, band reject)
波形保存 100波形
インターフェース USB Host, USB Device; Trig Out(Pass/Fail); LAN port; VGA port; EXT Trig In
寸法 422 mm (W)×226 mm (H)×135 mm (D)
重量 約 5kg (アクセサリーを除く本体のみ)
波形発生器
最高出力周波数 50MHz
サンプルレート  250Mサンプル/秒
チャンネル数 1
分解能 14bits
振幅範囲 2mVpp - 5Vpp(≦50MHz); 2mVpp - 20Vpp(≦25MHz)
任意波形長 16k
出力可能な波形 Sine, Square, Pulse, Ramp, Exponential Rise, Exponential Fall, Sin(x)/x, Step Wave, Noise, そのほか計64種のビルトイン波形, ユーザー定義任意波形
マルチメーター(オプション)
分解能 4½ 桁 オート・レンジ
測定モード 電圧, 電流, キャパシタンス, 抵抗, 周波数, デューティー比, 導通, ダイオード・テスト

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